سامانه جامع مدیریت اطلاعات آزمایشگاهی دانشگاه صنعتی شریف

به منظور تعیین ضخامت، زبری و دانسیته نمونه های لایه نازک با سطح صاف و براق قابل انجام است. برای لایه های نازک با حداکثر 200 نانومتر کاربرد دارد.

به منظور تعیین ضخامت، زبری و دانسیته نمونه های لایه نازک با سطح صاف و براق قابل انجام است. برای لایه های نازک با حداکثر 200 نانومتر کاربرد دارد.

1

1

XRR استاندارد- ISO 16413 ( XRR Standard-ISO 16413 )

نام : XRR ( X-ray Reflectivity )