کاربر عزیز خوش آمدید
آزمون AFM مقیم
آزمایشگاه میکروسکوپ نیروی اتمی مقیم (AFM) ( Atomic Force Microscope Laboratory (AFM) )
آزمون AFM مقیم
زبری در مقیاس نانومتر
دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی
زبری‌سنجی
تصویربرداری در دو مد تماسی و غیرتماسی
استاندارد BSI ISO 3274
مشخصات هندسی نمونه(GPS)- بافت سطح ( Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface Texture )
نمونه AFM
پارامتر (ها)
1
توپوگرافی و زبری متوسط ( Topography & Average Roughness )
(ريال)
2
توپوگرافی و زبری متوسط نمونه‌های ویژه ( Topograghy & Roughness for Special Samples )
(ريال)
اطلاعات تماس
ساعت پاسخگویی کارشناس آزمایشگاه از ساعت 9 الی 10 صبح روزهای کاری
