کاربر عزیز خوش آمدید
آزمون تصویربرداری از سطح نمونه در حالت نیروی بین اتمیAFM و حالت عبور جریان STM
آزمایشگاه نانو الکترونیک ( Nanoelectronics Laboratory )
آزمون تصویربرداری از سطح نمونه در حالت نیروی بین اتمیAFM و حالت عبور جریان STM
دستگاه
تصویربرداری و طیف نگاری از سطح نمونه به روش تونل زنی جریان و بدست آوردن توپوگرافی و مورولوژی سطح نمونه های هادی جریان الکتریکی و نیز بدست آوردن توپوگرافی و مورولوژی سطح نمونه در حالت نیروی بین اتمی
تصویربرداری از سطح نمونه در حالت نیروی بین اتمی AFM تصویربرداری و طیف¬نگاری از سطح نمونه به روش تونل زنی STM
مواد قابل بررسی در AFM شامل پوشش های فیلم نازک و ضخیم، سرامیکها، کامپوزیتها، شیشه ها، غشاهای بیولوژیک، فلزات، پلیمرها ونیمه رساناها می شود. در STM نمونه های هادی جریان الکتریکی استفاده میشوند
استاندارد 7-1702-3001
دستورالعمل داخلی 7 ( )
پارامتر (ها)
1
توپوگرافی و مورفولوژی سطحی ( Surface Topography and Morphologhy )
(ريال)
